（注１）機器センターの施設利用設備は、以下のリンクから確認してください。
( https://arim.ims.ac.jp/howtouse/list/ )
（注２）以下の設備は、（Ｂ）②協力研究（マテリアル先端リサーチインフラ）での利用のみとなりますので、ご注意ください。
・走査プローブ顕微鏡
・結晶スポンジ法を用いた分子構造解析
・Ｘ線溶液散乱計測システム
・機能性材料バンド構造顕微分析システム
・１Ｈ ６００ＭＨｚ固体(Bruker AVANCE 600)
・電子スピン共鳴 Bruker E680（本装置利用経験者を除く）
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利用期間 |
２０２４年４月～２０２５年３月の間で随時申請を受け付けます。 |
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採否 |
利用状況及び研究計画等を検討の上、当該研究施設の長が決定します。 |
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施設利用日数 |
１回の利用日数は原則として７日以内とします。利用状況、研究計画等を勘案し、利用日数を短縮していただくことがあります。 |
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利用方法 |
各利用設備責任者の指示に従って利用許可の範囲内で利用してください。 |
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報告書 |
文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ事業」の成果報告書を年度末に機器センター（マテリアル事務室）へ提出していただきます。なお、報告書は分子研ホームページなどで公開されます。 また、「分子研レターズ」に成果報告をお願いすることがあります。 共同利用研究者全員に、所属先、職名、氏名情報等の情報が公開されることの了承を得てください。承認が得られなかった場合には、所定の実施報告書の提出に加えて、公開不可の情報を黒塗り、墨消し等で削除した「報告書（公開用）」を別途提出してください。 |
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放射線業務従事 |
Ｘ線装置を使用する場合は、遅くとも実施予定日の２週間前までに別紙様式第４号の承認書を提出してください。 なお、従事期間は、個々に区切らず当該年度全体を包括するよう設定してください。 |
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研究成果の発表 |
マテリアル先端リサーチインフラ事業を利用した成果報告（論文等）には、謝辞の記載をお願いしています。 事業のホームページに例文を記載していますので、以下のリンクよりご確認ください。 |
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その他 |
機器センター施設利用は、文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ」事業としての取扱いとなります。 詳細は、ホームページ（ https://arim.ims.ac.jp/）をご覧ください。 申請者及び本申請における利用者全員は、文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ」事業における共用設備の利用等にあたり、マテリアル先端リサーチインフラ施設及び設備利用約款に承諾していただく必要があります。
・マテリアル先端リサーチインフラ施設及び設備利用約款 ( https://arim.ims.ac.jp/wp-content/uploads/contract.pdf ) ・マテリアル先端リサーチインフラデータ登録約款 (https://arim.ims.ac.jp/wp-content/uploads/data_registration.pdf )
また、申請者は、申請にあたって材料データプラットフォーム（ＤＩＣＥ）のアカウントを取得していただく必要があります。 ( https://dice.nims.go.jp/usage.html ) *原則として、ＮＯＵＳ登録と同じメールアドレスにしてください。事情がある場合は、マテリアル事務室にご相談ください。 |
電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)/JEOL JSM-6700F
低真空分析走査電子顕微鏡(低SEM)/Hitachi SU6600
電界放出形透過電子顕微鏡(TEM)/JEOL JEM-2100F
走査プローブ顕微鏡
＊走査プローブ顕微鏡は、（Ｂ）協力研究（マテリアル先端リサーチインフラ）での利用のみとなります。
Ｘ線
単結晶Ｘ線回折 Rigaku MERCURY CCD-1・R-AXIS IV
単結晶Ｘ線回折 Rigaku MERCURY CCD-2
単結晶Ｘ線回折 (微小結晶用) Rigaku HyPix-AFC
粉末Ｘ線回折 Rigaku RINT-UltimaIII
オペランド多目的X線回折 Panalytical Empyrean(要担当者事前確認)
＊結晶スポンジ法を用いた分子構造解析、Ｘ線溶液散乱計測システムは、（Ｂ）協力研究（マテリアル先端リサーチインフラ）での利用のみとなります。
電子分光
Ｘ線光電子分光 Scienta R4000L1
＊機能性材料バンド構造顕微分析システムは、（Ｂ）協力研究（マテリアル先端リサーチインフラ）での利用のみとなります。
電子スピン共鳴
Bruker E680（要担当者事前確認）
Bruker EMX Plus
Bruker E500
Bruker E580
ＳＱＵＩＤ型磁化測定
Quantum Design MPMS-7
Quantum Design MPMS-XL7
Quantum Design MPMS-3
熱分析
示差走査型カロリメーター(溶液) MicroCal VP-DSC
等温滴定型カロリメーター(溶液) MicroCal PEAQ-ITC
等温滴定型カロリメーター(溶液) MicroCal iTC200
熱分析装置(固体、粉末) Rigaku DSC8231/TG-DTA8122
質量分析
MALDI-TOF質量分析 Bruker Microflex LRF
分光
顕微ラマン分光 RENISHAW in Via Reflex
ＦＴ遠赤外分光 Bruker IFS66v/S
蛍光分光 HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
紫外・可視・近赤外分光光度計 SHIMADZU UV-3600Plus
絶対PL量子収率測定装置 HAMAMATSU Quantaurus-QY C11347-01
円二色性分散 JASCO J-1500
レーザー
ピコ秒レーザー Spectra-Physics,Quantronix Millennia-Tsunami,TITAN-TOPAS
高磁場NMR
１Ｈ ６００ＭＨｚ溶液 JEOL JNM-ECA600
＊１Ｈ ６００ＭＨｚ固体(Bruker AVANCE 600)は、（Ｂ）協力研究（マテリアル先端リサーチインフラ）での利用のみとなります。
＊測定の際に、寒剤（液体窒素・液体ヘリウム）の利用が可能です。
