| 利用期間 | 平成２７年１０月～平成２８年３月 |
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| 申込期限 |
平成２７年７月３日（金）１７：００締切 申込は締切ました。
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| 受入れの可否 | 利用状況及び申込書の研究計画等を検討の上、当該研究施設の長が決定します。 |
| 施設利用日数 |
１回の利用日数は原則として７日以内とします。 利用状況、研究計画等を勘案し、利用日数を短縮していただくことがあります。 |
| 利用方法 | 各利用設備責任者の指示に従って利用許可の範囲内で利用してください。 |
| 利用報告 |
文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム事業」の利用報告書を年度末に機器センターへ提出していただきます。また、「分子研レターズ」「機器センターたより」に成果報告をお願いすることがあります。 |
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放射線業務従事 承認書の提出 |
Ｘ線装置を使用する場合は、申込書と併せて別紙様式第４号の承認書を提出してください。なお、従事期間は、個々に区切らず全体を包括するよう設定してください。 |
電子顕微鏡
高分解能透過電子顕微鏡(TEM)/JEOL JEM-3100FEF
集束イオンビーム(FIB)/JEOL JEM-9310FIB
走査電子顕微鏡(SEM)/JEOL JSM-6700F
低真空電界放射走査電子顕微鏡(SEM)/Hitachi SU6600
* 電子顕微鏡は技術代行としての利用も可能です。申請書にその旨の記載をお願いし ます。
X線
単結晶X線回折 Rigaku MERCURY CCD-1 R-AXIS IV
単結晶X線回折 Rigaku MERCURY CCD-2
単結晶X線回折 微小結晶 Rigaku/MERCURY CCD-3
粉末X線回折 Rigaku RINT-UltimaIII
蛍光X線分析 JEOL JSX-3400RⅡ
* X線溶液散乱システムRigaku NANO-Viewerは、(B) 協力研究（ナノテクノロジー プラットフォーム）での利用のみとなりましたので、そちらから申請ください。
電子分光
X線光電子分光 Omicron EA-125
* 機能性材料バンド構造顕微分析システムVG SCIENTAは、(B) 協力研究（ナノテク ノロジープラットフォーム）での利用のみとなりましたので、そちらから申請ください。
電子スピン共鳴
Bruker EMX Plus
Bruker E500
Bruker E680
SQUID型磁化測定
Quantum Design MPMS-7
Quantum Design MPMS-XL7
熱分析
熱分析(固体、粉末) TA Instruments TGA2950, DSC2920, SDT2960
示差走査型(溶液) MicroCal VP-DSC
等温滴定型(溶液) MicroCal iTC200
質量分析
マトリックス支援レーザー脱離イオン化-飛行時間型質量分析計Applied Biosystems
Voyager DE-STR
分光
顕微ラマン分光装置 RENISHAW in Via Reflex
フーリエ変換赤外分光光度計 Bruker IFS66v/S
蛍光分光光度計 HORIBA SPEX Fluorolog3-21
円二色性分散計 JASCO J-720WI
可視紫外分光光度計 Hitachi U-3500
レーザーピコ秒レーザー Spectra-Physics,Quantronix Millennia-
Tsunami,TITAN-TOPAS
ナノ秒エキシマー励起色素レーザー/ LAMBDA PHYSIK Compex Pro 110
ナノ秒Nd:YAG励起OPOレーザー/Spectra-Physics GCR-250 ScanmateOPPO
ナノ秒フッ素系エキシマーレーザー/LAMBDA PHYSIK Compex110F
高磁場NMR
1H 600MHz溶液 JNM-ECA600
* 1H 920MHz (JEOL JNM-ECA 920), 1H 800MHz溶液 (Bruker AVANCE 800), 1H 600MHz固体(Bruker AVANCE 600)は、(B) 協力研究（ナノテクノロジープラット フォーム）での利用のみとなりましたので、そちらから申請ください。
※1 上記の機器を利用した測定の際に、寒剤（液体窒素・液体ヘリウム）の利用が可能です。
