| 利用期間 | 平成２８年４月～平成２９年３月 |
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| 申込期限 |
平成２７年１２月１１日（月）１７：００締切 申込は終了しました。 ただし、期限までに利用計画が確定できない場合は、随時受け付けます。なお、随時申請の場合の利用期間は許可をした日から平成２８年９月３０日までです。 |
| 受入れの可否 | 利用状況及び申込書の研究計画等を検討の上、当該研究施設の長が決定します。 |
| 施設利用日数 |
１回の利用日数は原則として７日以内とします。 利用状況、研究計画等を勘案し、利用日数を短縮していただくことがあります。 震災被災研究者支援のための特別枠では、上記の利用日数を超えた施設利用も可能です。その場合は、機器センター長を所内対応者とした(B)協力研究の特別枠として申請して下さい。 |
| 利用方法 | 各利用設備責任者の指示に従って利用許可の範囲内で利用してください。 |
| 利用報告 |
文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム事業」の利用報告書を年度末に機器センターへ提出していただきます。また、「分子研レターズ」「機器センターたより」に成果報告をお願いすることがあります。 |
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放射線業務従事 承認書の提出 |
Ｘ線装置を使用する場合は、申込書と併せて別紙様式第４号の承認書を提出承認書の提出してください。なお、従事期間は、個々に区切らず全体を包括するよう設定してください。 |
電子顕微鏡
高分解能透過型電子顕微鏡(TEM)/JEOL JEM-3100FEF ※利用中止中
電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)/JEOL JSM-6700F
集束イオンビーム加工機(FIB)/JEOL JEM-9310FIB
低真空分析走査電子顕微鏡(SEM)/Hitachi SU6600
* 電子顕微鏡は技術代行としての利用も可能です。申請書にその旨の記載をお願いしま す。
X線
単結晶X線回折 Rigaku MERCURY CCD-1・R-AXIS IV
単結晶X線回折 Rigaku MERCURY CCD-2
単結晶X線回折 (微小結晶用) Rigaku MERCURY CCD-3
粉末X線回折 Rigaku RINT-UltimaIII
蛍光X線分析 JEOL JSX-3400RⅡ
* X線溶液散乱システムRigaku NANO-Viewerは、(B) 協力研究（ナノテクノロジープ ラットフォーム）での利用のみとなりましたので、そちらから申請ください。
電子分光
X線光電子分光 Omicron EA-125
* 機能性材料バンド構造顕微分析システムVG SCIENTAは、(B) 協力研究（ナノテクノロ ジープラットフォーム）での利用のみとなりましたので、そちらから申請ください。
電子スピン共鳴
Bruker E680（要担当者事前確認）
Bruker EMX Plus
Bruker E500
SQUID型磁化測定
Quantum Design MPMS-7
Quantum Design MPMS-XL7
熱分析
示差走査型カロリメーター(溶液) MicroCal VP-DSC
等温滴定型カロリメーター(溶液) MicroCal iTC200
熱分析装置(固体、粉末) TA Instruments TGA2950、SDT2960、DSC2920
質量分析
MALDI-TOF質量分析Applied Biosystems Voyager DE-STR
分光
顕微ラマン分光 RENISHAW inVia Reflex
FT遠赤外分光 Bruker IFS66v/S
蛍光分光 HORIBA SPEX Fluorolog3-21
可視紫外分光 Hitachi U-3500
円二色性分散 JASCO J-720WI
レーザー
ピコ秒レーザー Spectra-Physics,Quantronix Millennia-Tsunami,TITAN-TOPAS
ナノ秒エキシマー励起色素レーザー/ LAMBDA PHYSIK Compex Pro 110
ナノ秒Nd:YAG励起OPOレーザー/Spectra-Physics GCR-250 ScanmateOPPO
ナノ秒フッ素系エキシマーレーザー/LAMBDA PHYSIK Compex110F
高磁場NMR
1H 920MHz JEOL JNM-ECA 920
1H 600MHz溶液 JEOL JNM-ECA600
* 1H 800MHz溶液 (Bruker AVANCE 800 US), 1H 600MHz固体(Bruker AVANCE 600) は、(B) 協力研究（ナノテクノロジープラットフォーム）での利用のみとなりましたの で、そちらから申請ください。
※ 上記の機器を利用した測定の際に、寒剤（液体窒素・液体ヘリウム）の利用が可能です。
