概 要 |
この春より分子研に来られた新進気鋭の若手研究者、島田紘行さん(大森G)・須磨航介さん(大島G)・中井郁代さん(松本G)を講師として下記要領で光分子科学フォーラムを開催いたします。
皆様のご参加をお待ちしております。
講演者 |
Dr. Hiroyuki Shimada |
演 題 |
Response of an atom to a large-amplitude electric field probed by recoil-ion momentum spectroscopy |
講演要旨 |
When an atom is exposed to an intense, near-infrared laser field, the atom is ionized. This type of ionization can be classified with Keldysh parameter g, which is a function of the ionization potential, the frequency and amplitude of the laser field. While the ionization process in the limit of large g is described as the ionization by absorption of many photons (non-adiabatic or multi-photon ionization), in the other limit, namely small g, the process is described as the ionization under the influence of quasi-static electric field, and usually called as an adiabatic or tunneling ionization. However, if the field strength becomes comparable to that of the intra-atomic one, the ionization proceeds not only by tunneling, but also by a classical barrier-suppression ionization (BSI), and the term "tunneling" is inappropriate in this case. While the ionization rate in the tunneling regime has been widely investigated by several researchers, both experimentally and theoretically, the rate in the BSI regime has not been yet.
In this talk, we show the experimental results of the recoil-ion momentum spectroscopy for rare-gas atomic ions that were produced in the BSI regime by an intense (~10^17 W/cm2) laser field. The result is compared with a model calculation and behavior of an atom under such a strong field is discussed. |
講演者 |
須磨航介 博士 |
演 題 |
大気化学関連不安定分子種のマイクロ波分光 |
講演要旨 |
パルス放電ノズルを組み合わせたフーリエ変換型マイクロ波分光法は、化学反応中に短時間のみ存在する活性な分子種を効率的に 生成し、検出を行う最も優れた手法の一つである。その実験結果からは、分子の構造、電子状態等の詳細な情報を得ることができる。我々はこの手法を用い、幾 つかの新規な短寿命分子種の観測に成功した。本講演では、この中から特に大気化学において重要な寄与をすると考えられ、注目されているラジカル種 HOOO、閉殻分子 HOOOH、およびラジカルと閉殻分子が弱く結合したラジカル分子錯体である水-HO2錯体の研究成果を中心に紹介する。 |
講演者 |
中井郁代 博士 |
演 題 |
内殻分光法を用いた表面反応の研究:白金族表面上のCO+O反応およびNO+N反応 |
講演要旨 |
表面反応や吸着の機構を理解するためには、それらの進行を直接実時間追跡することが重要である。
放射光軟X線を用い る分光法であるX線光電子分光法(XPS)およびX線吸収端近傍微細構造(NEXAFS)法は、表面吸着種の状態を解析するのに有用な手法である。しか し、従来の測定法では、単分子吸着膜に対して数分から10分以上という測定時間を要し、表面反応や吸着の進行を捉えることは難しかった。我々は新しい NEXAFSの測定法を開発し、1秒-数10秒と、従来法の100分の1近くまで測定時間を短縮した。この新しい手法を実際に表面反応系に適用し、速度論 的解析と、モンテカルロシミュレーションを用いて、反応機構を検討した結果を報告する。
対象として、実触媒反応とも関連の深い、白金族表面上のCO+OおよびNO+Nという反応を選んだ。これらの反応系の機構に関しては、実験、理論の両面か ら多くの研究がなされてきたが、いまだに不明な点が多く残されている。吸着種の吸着サイトや配置が反応性を決定するのに大きな影響を与えること、また、従 来はあまり想定されてこなかった表面に緩く束縛された化学種が反応において重要な役割を果たすことを明らかにした。
また、最近開発したサブミリ秒の時間分解能をもった測定法にも簡単に触れる。 |
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