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(G)機器センター施設利用 公募要項

平成29年度共同利用研究(前期)公募要項へもどる

利用期間 平成29年4月~平成30年3月
申込期限

 

平成28年12月9日(金)17:00締切

 

 

ただし、期限までに利用計画が確定できない場合は、随時受け付けます。なお、随時申請の場合の利用期間は許可をした日から平成29年9月30日までです。
受入れの可否 利用状況及び申込書の研究計画等を検討の上、当該研究施設の長が決定します。
施設利用日数 1回の利用日数は原則として7日以内とします。
利用状況、研究計画等を勘案し、利用日数を短縮していただくことがあります。
震災被災研究者支援のための特別枠では、上記の利用日数を超えた施設利用も可能です。その場合は、機器センター長を所内対応者とした(B)協力研究の特別枠として申請して下さい。
利用方法 各利用設備責任者の指示に従って利用許可の範囲内で利用してください。
利用報告

文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム事業」の利用報告書を年度末に機器センターへ提出していただきます。また、「分子研レターズ」「機器センターたより」に成果報告をお願いすることがあります。

放射線業務従事
承認書の提出

X線装置を使用する場合は、申込書と併せて別紙様式第4号の承認書を提出してください。なお、従事期間は、個々に区切らず全体を包括するよう設定してください。

 

機器センターの施設利用設備

電子顕微鏡
 電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)/JEOL JSM-6700F
 集束イオンビーム加工機(FIB)/JEOL JEM-9310FIB
 低真空分析走査電子顕微鏡(SEM)/Hitachi SU6600
 * 電子顕微鏡は技術代行としての利用も可能です。申請書にその旨の記載をお願いします。

X線
 単結晶X線回折 Rigaku MERCURY CCD-1・R-AXIS IV
 単結晶X線回折 Rigaku MERCURY CCD-2
 単結晶X線回折 (微小結晶用) Rigaku MERCURY CCD-3
 粉末X線回折 Rigaku RINT-UltimaIII
 蛍光X線分析 JEOL JSX-3400RⅡ
 * X線溶液散乱計測システムRigaku NANO-Viewerは、(B) 協力研究(ナノテクノロジープラットフォーム)での利用のみとなりましたので、そちらから申請ください。

電子分光
 X線光電子分光 Omicron EA-125
 * 機能性材料バンド構造顕微分析システムVG SCIENTAは、(B) 協力研究(ナノテクノロジープラットフォーム)での利用のみとなりましたので、そちらから申請ください。

電子スピン共鳴
 Bruker E680(要担当者事前確認)
 Bruker EMX Plus
 Bruker E500

SQUID型磁化測定
 Quantum Design MPMS-7
 Quantum Design MPMS-XL7

熱分析
 示差走査型カロリメーター(溶液) MicroCal VP-DSC
 等温滴定型カロリメーター(溶液) MicroCal iTC200
 熱分析装置(固体、粉末) TA Instruments TGA2950、SDT2960、DSC2920

質量分析
 MALDI-TOF質量分析Applied Biosystems Voyager DE-STR

分光
 顕微ラマン分光 RENISHAW inVia Reflex
 FT遠赤外分光 Bruker IFS66v/S
 蛍光分光 HORIBA SPEX Fluorolog3-21
 可視紫外分光 Hitachi U-3500
 円二色性分散 JASCO J-720WI

レーザー
 ピコ秒レーザー Spectra-Physics,Quantronix Millennia-Tsunami,TITAN-TOPAS
 ナノ秒エキシマー励起色素レーザー/ LAMBDA PHYSIK Compex Pro 110
 ナノ秒Nd:YAG励起OPOレーザー/Spectra-Physics GCR-250 ScanmateOPPO
 ナノ秒フッ素系エキシマーレーザー/LAMBDA PHYSIK Compex110F

高磁場NMR
 1H 600MHz溶液 JEOL JNM-ECA600
 * 1H 800MHz溶液 (Bruker AVANCE 800 US), 1H 600MHz固体(Bruker AVANCE 600)  は、(B) 協力研究(ナノテクノロジープラットフォーム)での利用のみとなりましたの   で、そちらから申請ください。
 
※ 上記の機器を利用した測定の際に、寒剤(液体窒素・液体ヘリウム)の利用が可能です。